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黄瓜枯萎病抗性基因的连锁分子标记

张海英;张海霞;张峰;毛爱军;许勇;王永健;于广建;   

  1. 北京蔬菜研究中心,北京蔬菜研究中心,北京蔬菜研究中心,北京蔬菜研究中心,北京蔬菜研究中心,北京蔬菜研究中心,东北农业大学园艺系 北京100089,北京100089东北农业大学园艺系,哈尔滨150030,北京100089,北京100089,北京100089,北京100089,哈尔滨150030
  • 出版日期:2006-12-30 发布日期:2006-12-30
  • 基金资助:
    北京市自然科学基金(5050001,5062008);; 国家自然科学基金(30471186,30570997)资助

  • Published:2006-12-30 Online:2006-12-30

摘要: 黄瓜枯萎病是危害我国黄瓜的主要病害。本实验以黄瓜抗枯萎病亲本WIS2757和感枯萎病亲本津研2号及其F2代分离群体为试材,采用分离群体分组分析法(BSA)进行了与黄瓜抗枯萎病基因连锁的分子标记研究。AFLP分析表明:引物对P15M5扩增出的特异DNA片段P15M5-310与WIS2757黄瓜枯萎病抗性基因连锁,遗传距离为7cM。

关键词: 植黄瓜, 枯萎病, 抗性基因, AFLP